Proceedings Vol. 8 (2002)
INŽENÝRSKÁ MECHANIKA 2002
ENGINEERING MECHANICS 2002
May 13 – 16, 2002, Svratka, Czech Republic
Copyright © 2002 Institute of Mechanics of Solids, Faculty of Mechanical Engineering, Bruno University of Technology, Brno
ISSN 1805-8248 (printed)
ISSN 1805-8256 (electronic)
list of papers scientific commitee
pages x5 - +3p., full text
Profilometrie pomocí interference bílého světla je metoda vhodná pro proměřování topologie technických povrchů. Jedná se o bezkontaktní optickou metodu, při které je proměřen výškový profil předmětu s přesností přibližně 1 fim. Při jednom měřícím procesu je možné proměřit výškový profil na ploše o velikosti 20 x 20 mm. Příčné rozlišení této měřící metody je přibližně 40 fim. Díky koaxiálnímu uspořádání je možné měřit i v hlubokých dírách nebo zářezech. Výškový rozsah měření může dosáhnout od stovek mikrometrů po desítky milimetrů při zachování vysoké měřící přesnosti.
back to list of papers
Text and facts may be copied and used freely, but credit should be given to these Proceedings.
All papers were reviewed by members of the scientific committee.
Powered by
Imce 3.20 © 2023, Pavel Formánek, Institute of Thermomechanics AS CR, v.v.i. [generated: 0.0277s]