Engineering Mechanics

International Conference

Proceedings Vol. 8 (2002)


INŽENÝRSKÁ MECHANIKA 2002

ENGINEERING MECHANICS 2002

NATIONAL CONFERENCE WITH INTERNATIONAL PARTICIPATION
May 13 – 16, 2002, Svratka, Czech Republic
;
Editors: Lubomír Houfek, Pavel Hlavoň, Petr Krejčí

Copyright © 2002 Institute of Mechanics of Solids, Faculty of Mechanical Engineering, Bruno University of Technology, Brno

ISBN 80-214-2109-6 (printed)
ISSN 1805-8248 (printed)
ISSN 1805-8256 (electronic)

list of papers scientific commitee

Profilometrie pomocí interference bílého světla
Pavel Pavlíček
pages x5 - +3p., full text

Profilometrie pomocí interference bílého světla je metoda vhodná pro proměřování topologie technických povrchů. Jedná se o bezkontaktní optickou metodu, při které je proměřen výškový profil předmětu s přesností přibližně 1 fim. Při jednom měřícím procesu je možné proměřit výškový profil na ploše o velikosti 20 x 20 mm. Příčné rozlišení této měřící metody je přibližně 40 fim. Díky koaxiálnímu uspořádání je možné měřit i v hlubokých dírách nebo zářezech. Výškový rozsah měření může dosáhnout od stovek mikrometrů po desítky milimetrů při zachování vysoké měřící přesnosti.


back to list of papers

Text and facts may be copied and used freely, but credit should be given to these Proceedings.

All papers were reviewed by members of the scientific committee.


imce   Powered by Imce 3.12  © 2019, Pavel Formánek, Institute of Thermomechanics AS CR, v.v.i. [generated: 0.0204s]