Engineering Mechanics

Proceedings Vol. 8 (2002)

INŽENÝRSKÁ MECHANIKA 2002

ENGINEERING MECHANICS 2002

Copyright © 2002 Institute of Mechanics of Solids, Faculty of Mechanical Engineering, Bruno University of Technology, Brno

 

Pavel Pavlíček
pages x5 - +3p., full text

Profilometrie pomocí interference bílého světla je metoda vhodná pro proměřování topologie technických povrchů. Jedná se o bezkontaktní optickou metodu, při které je proměřen výškový profil předmětu s přesností přibližně 1 fim. Při jednom měřícím procesu je možné proměřit výškový profil na ploše o velikosti 20 x 20 mm. Příčné rozlišení této měřící metody je přibližně 40 fim. Díky koaxiálnímu uspořádání je možné měřit i v hlubokých dírách nebo zářezech. Výškový rozsah měření může dosáhnout od stovek mikrometrů po desítky milimetrů při zachování vysoké měřící přesnosti.

Text and facts may be copied and used freely, but credit should be given to these Proceedings.

All papers were reviewed by members of the scientific committee.